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1、 晶体管特性图示仪是一种能对晶体管的特性参数进行测试的仪器。
2、荧光屏的刻度可以直接观测半导体管的共集电极，共基板和共发射极的输入特性，输出特征，转换特征，β参数以及α参数等，并可根据需要，测量半导体管的其他各项极限特性与击穿特性参数。
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